|
| |
| |
| 一种碳化硅微粉粒度检测方法 |
| 来源：中国粉体技术网 更新时间：2013-12-10 09:27:17 浏览次数： |
 |
专利名称： 一种碳化硅微粉粒度检测方法
专利持有人：平顶山易成新材料股份有限公司
所属行业：
内容摘要：本发明提供的碳化硅微粉粒度的检测方法融合了电阻法与激光法两种方法，配合针对不同型号的样品选择性的采用相对应的分散方法，从而使碳化硅颗粒分散均匀、良好，进而使粒度检测数据更为科学、真实，精确度高。 |
|
|
|
发明人：曲丽伟，梁贵振，夏军，杨正宏，叶小迷，张向峰，苏燕，张强
申请人：平顶山易成新材料股份有限公司
申请号：201210515224.7
一种碳化硅微粉粒度检测方法，包括如下步骤：一、用光学显微镜观察样品，判断样品的型号，推断样品粒度；二、当碳化硅微粉样品的平均粒度D50小于5.5um时，采用超声细胞粉碎机进行分散，分散完毕，采用Malvern激光粒度仪进行粒度检测；三、当碳化硅微粉样品的平均粒度D50大于5.5um时，采用超声清洗器进行分散，分散完毕，采用COULTER颗粒计数仪进行粒度检测。本发明提供的碳化硅微粉粒度的检测方法融合了电阻法与激光法两种方法，配合针对不同型号的样品选择性的采用相对应的分散方法，从而使碳化硅颗粒分散均匀、良好，进而使粒度检测数据更为科学、真实，精确度高。
http://www.fentijs.com/uploadfile/2013/1210/20131210092940261.pdf
|
|
|
|
|
| |
|
| |
|
|
|
|
|
|
