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| 扫描电子显微镜的优点和试样制备 |
| 本文简述了扫描电子显微镜的优点和试样制备。[详细] |
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| 扫描电子显微镜的仪器组成 |
| 本文介绍了扫描电子显微镜的仪器组成。[详细] |
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| 扫描电子显微镜的工作原理 |
| 扫描电镜是显微结构分析的主要仪器，已广泛用于材料、冶金、矿物、生物学等领域，成为一种使用效率极高的大型分析仪器，本文简要介绍了其工作原理。[详细] |
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| 透射电子显微镜概述 |
| 透射电子显微镜（transmission electron microscope,TEM）是使电子束穿透所观察的样品，并将透射电子用电磁透镜会聚成像，以观察样品内部结构信息的仪器，简称透射电镜。透射电镜是现代显微技术中分辨率最高，...[详细] |
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| X射线在粉体技术领域的应用（3）——物相分析 |
| 物相分析是十分有效并且应用广泛的分析方法，在材料、冶金、化工、地质等领域被广泛应用，物相分析的任务是鉴别待测样由哪些物相组成及各物相的含量。X射线衍射法是一种比较有效的物相分析手段，本文介绍了利用X...[详细] |
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| X射线在粉体技术领域的应用（2）——晶体结构的测定 |
| X射线在粉体技术领域的重要应用之一就是测定晶体结构，即测定晶胞参数（a，b，c，a，b，γ）、晶胞中各原子的位置坐标（xi，yi，zi）、其温度因子及位置占有率等参数。晶体结构主要是用单晶体衍射测定的，近年来...[详细] |
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| X射线在粉体领域的应用（1） |
| 一、X射线概述 X射线于1895年由伦琴(W.K.Rontgen)所发现，由于伦琴发现这种射线时无法确定其性质，故称为X射线。后来为纪念它的发明者也称为伦琴射线。 它具有如下特性：①肉眼不能观察到，但可使照相底片感...[详细] |
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| “透视眼”X射线 |
| X射线于1895年由伦琴(W.K.Rontgen)所发现，由于伦琴发现这种射线时无法确定其性质，故称为X射线。后来为纪念它的发明者也称为伦琴射线。它具有如下特性：①肉眼不能观察到，但可使照相底片感光、荧光板发光和使...[详细] |
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