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| 珀金埃尔默公司举办纳米颗粒检测技术研讨会 |
| 来源：中国粉体技术网 更新时间：2015-05-04 10:48:02 浏览次数： |
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（中国粉体技术网/班建伟）近日，珀金埃尔默公司在位于张江的客户体验中心成功举办了Sp ICP-MS(Single Particle ICP-MS)纳米颗粒检测技术研讨会，本次会议还邀请到了中国科学院南京土壤所的专家做了相关应用报告。
在会上，珀金埃尔默公司的市场部人员罗俊杰对Sp ICP-MS技术检测纳米颗粒的原理及其在环境、生物、食品和半导体等行业的应用做了详细介绍，并对该技术方法的实验过程做了简介。中科院南京土壤所的李程程博士做了题为“微生物胞外聚合物对纳米银粒子的植物毒性影响”的报告，该研究中使用了Sp ICP-MS技术对植物及其培养液中的纳米颗粒尺寸及浓度进行表征。讲座报告后，珀金埃尔默公司的资深技术专家朱敏使用NexION 350 ICP-MS为大家演示了整个实验操作过程。整个会议过程中，与会人员与技术专家们就该技术的操作和应用方面做了深入的探讨，会议充斥着浓厚的学术气息。
Sp ICP-MS在传统ICP-MS检测元素种类和浓度的基础上，还可以同时进行纳米颗粒的尺寸、粒径分布和颗粒浓度的检测。随着PerkinElmer NexION 350 ICP-MS和全新的SyngistixTM软件纳米应用模块的推出，该检测技术进入了一个更为成熟的发展阶段。NexION 350可以提供高达10万个数据/秒的快速采集速度，可以采集到最真实纳米颗粒信号，SyngistixTM中嵌入了专用的纳米应用模块，可实时观测数据信号，快速获得颗粒尺寸、粒径分布、颗粒浓度和溶解的离子浓度等信息，无需任何手动计算，为Sp ICP-MS技术提供了最有利的软件平台。
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