（中国粉体技术网/班建伟）珠海欧美克仪器有限公司经过多年的技术积累后研发出的一款高性能激光粒度分析仪-Topsizer高精度智能激光粒度仪。它具有量程宽（0.02-2000μm）、重复性好（重复性误差：≤±0.5%）、精度高（准确性误差：≤±1%）、测试结果真实、可靠性高等诸多优点，真正站在了当前粒度检测领域的前沿，代表了中国粒度检测与分析技术的新高度。Topsizer高性能激光粒度仪自发布以来受到广大行业客户以及媒体的关注，并且凭借出色的性能特点建立起了颇具规模的客户群体，得到了广泛的应用和认可。
目前，在用激光静态散射法测量颗粒的粒度分布时，通常是将颗粒样本分散在流动的悬浮介质（通常是水）中，然后流过测量窗口，同时用激光垂直照射测量窗口，在测量窗口前面和后面放置光电探测器测量颗粒的散射光信号，然后经过计算机进行反演计算从而得到颗粒样本的粒度分布曲线。而颗粒样本的散射光从水中经过玻璃出射到空气中时，会受到全反射现象的影响，从而导致某些角度的散射光无法被光电探测器探测到，最终可影响到0.1mm~1.0mm的亚微米颗粒粒度测量。若选择垂直于散射面的光源偏振态，可以改善0.3mm~1.5mm粒度范围的测试性能，但是散射光在从水中经过窗口玻璃出射到空气中时的透过率在大角度散射时会降低，这就对探测器的灵敏度及仪器的噪声水平提出了更高的要求。国产激光粒度仪几乎全部都是采用激光束正入射到测量窗口的光路结构，其测试结果不可避免地在亚微米区间会受到影响。
国外公司如英国马尔文公司Mastersizer2000粒度仪采用蓝光斜入射、德国FRITSCH公司analysette22粒度仪采用棱镜形状测量窗口、日本岛津公司SALD-7101粒度仪采用在窗口侧面放置探测器等方法来处理全反射的影响从而提升仪器的亚微米颗粒测试性能。珠海欧美克仪器有限公司对激光粒度仪亚微米颗粒测试性能进行了长期的研究，在此基础上采用双光源技术比较有效地提升了激光粒度仪亚微米颗粒的测试性能，填补了国内空白，使得国产激光粒度仪的性能提升了一个台阶。
双光源技术增强激光粒度仪的亚微米颗粒测试性能的原理
激光粒度仪亚微米颗粒的测试性能一直是国产仪器性能的一个瓶颈。从原理上分析，亚微米颗粒难以很好地测量主要由以下两个方面的原因造成：（1）角度测量盲区问题；（2）微弱信号测量难题。
角度测量盲区的形成如图1和图2所示，对于图1所示的平行光照明系统，空气中的接收角受工作距离L和付里叶透镜孔径D的限制，最大只能达到40°左右，折算到水介质中为29°，在有后向接收时，存在29°~141°之间的测量盲区；对于图2所示的会聚光照明系统，空气中的接收角理论上最大可达90°，折算到水介质中为49°（全反射角），在后向有接收时，存在49°~131°的盲区。这些角度测量盲区的存在对激光粒度仪亚微米颗粒的测试性能不可避免地造成了一定的影响。
微弱信号测量难题主要源于亚微米颗粒的光散射特性，根据瑞利散射近似，相对散射截面积与粒径的4次方成正比，亚微米颗粒散射光强随着粒径减小而急剧减弱，从而导致亚微米颗粒的光散射信号很难测量，因此也就很难准确测得亚微米颗粒粒度分布的数据。
双光源技术示意图 为了有效解决上述的亚微米颗粒测量难题，我们在仪器设计中采用了双光源技术，也就是在传统的波长为633nm的He-Ne激光光源的基础上增加了蓝光光源，如图3所示。蓝光采用高亮度LED光源，波长为455nm。从原理上来说，采用了增加蓝光的双光源技术之后，有以下两个好处：（1）斜入射结构突破了红光全反射限制，相当于填补了角度盲区；（2）根据瑞利散射(相对)截面公式：r为粒子半径，λ为照明光的波长，容易得出亚微米颗粒对蓝光（波长为455nm）的散射效率是对He-Ne红色激光（波长为633nm）的约3.75倍，有效增强了在红光散射情况下的微弱散射信号。
从激光粒度仪的测量原理综合来看，采用双光源技术，可以比较有效地解决由于角度测量盲区问题和微弱信号测量难题所导致的亚微米颗粒测试难题，能够获得更多、更强的亚微米颗粒散射光能信号，较短波长的蓝光与红光相比对小颗粒的测试分辨能力更强，从而也就能够据此更准确地计算出亚微米颗粒的粒度分布数据，使得仪器的亚微米颗粒测试性能获得质的突破。
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