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FEI TecnaiG2 F30 是一个真正多功能，多用户环境的先进仪器。它将各种透射电镜技术(包括TEM、HRTEM、STEM、HRSTEM、电子衍射、EFTEM、EDX、EELS和Lorentz透镜等)一体化，形成强大的分析功能。除了具有200kV的各种优点外，Tecnai G2 F30提供了300kV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。Tecnai G2 F30可以在原子尺度的分辨率下对材料进行高质量、高稳定性的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析，及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。
主要技术指标：
加速电压：300KV 电子枪：肖特基场发射电子枪
分辨率:点分辨率：0.205 nm 线分辨率：0.102 nm
信息分辨率：0.14nm HRSTEM分辨率：0.16nm
EELS分辨率：0.65eV EDX分辨率：136eV
放大倍数: TEM 模式 60X—1000KX
HAADF-STEM模式 200X—100M
提供服务：TEM+HRTEM、衍射斑点、EDS点/微区、Haadf-STEM、Elements Mapping、3D-TEM(electron tomograghy)
结果提供类型：tiff图片+dm3源文件+源文件分析软件
结果构架形式：Low mag文件夹+HRTEM文件夹（position1 and position2）
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