| 粒度测试方法 |
优 点 |
缺 点 |
| 筛分法 |
简单、直观、设备造价低、常用于大于40μm的样品 |
不能用于40μm以下的样品，结果受人为因素和筛孔变形影响较大 |
| 显微镜（图像）法 |
简单、直观、可进行形貌分析，适合分布窄（最大和最小粒径的比值小于10：1）的样品 |
无法分析分布范围宽的样品，无法分析小于1微米的样品
|
| 沉降法 |
操作简便，仪器可以连续运行，价格低，准确性和重复性较好，测试范围较大 |
测试时间较长，操作比较复杂
|
| 库尔特（电阻）法 |
操作简便，可测颗粒总数，等效概念明确，速度快，准确性好 |
适合分布范围较窄的样品
|
| 激光衍射/散射法 |
操作简便，测试速度快，测试范围大，重复性和准确性好，可进行在线测量和干法测量 |
结果受分布模型影响较大，仪器造价较高
|
| 电镜法 |
适合测试超细颗粒甚至纳米颗粒、分辨率高 |
样品少、代表性差、仪器价格昂贵 |
| 超声波法 |
可对高浓度浆料直接测量 |
分辨率较低 |
| 透气法 |
仪器价格低，不用对样品进行分散，可测磁性材料粉体 |
只能得到平均粒度值，不能测粒度分布
|
