EDX 600 X光膜厚测厚仪——X荧光光谱仪
EDX600X光膜厚测厚仪——X荧光光谱仪
EDX600X光膜厚测厚仪是集天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。
EDX600X光膜厚测厚仪使用高效而实用的正比计数盒探测器，以实在的价格定位，满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。
性能特点
专业贵金属检测、镀层厚度检测。
智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
技术指标
元素分析范围：从钾（K）到铀（U）。
测量对象：固体、液体、粉末
分析检出限可达：ppm。
分析含量一般为：ppm到99.9％。
多次测量重复性可达：0.1％。
长期工作稳定性为：0.1％。
标准配置
单样品腔。
正比计数盒探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
外观尺寸： 430×380×355mm
样品腔尺寸：306×260×78mm
重量：30kg
应用领域
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
X光膜厚测厚仪金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
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