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熔融制样-X射线荧光光谱法测定重晶石中的主要组分
来源：光谱实验室    更新时间：2013-06-22 13:10:10    浏览次数：
 
        华南理工大学曾小平等采用熔融片制样法,X射线荧光光谱仪(XRF)同时测定防辐射用重晶石中氧化钡和二氧化硅等主次组分的含量,用基本参数法校正基体效应,并进行了方法的精密度和准确度试验,各组分相对标准偏差RSD(n=10)均小于6.0%。用标准物质进行验证,测量值与之基本一致。


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